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小型QNix4200測厚儀技術參數

小型QNix4200測厚儀技術參數

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小型QNix4200測厚儀技術參數
QNix 4200是一款小型的,輕便的涂層測厚儀,敏感測量探頭集成在量規中。它配備了一個可讀取的LCD,用于通知讀數,電池狀態,操作模式和序列號。

小型QNix4200測厚儀技術參數的詳細資料:

小型QNix4200測厚儀技術參數

QNix4200技術參數:

磁性基體(Fe模式)     可以

非磁性基體(NFe模式)  不可以

測量范圍             Fe:0-3000um

顯示精度             0.1um

精度                 0-50um:≤±1um

                    50-1000um:≤±1.5%讀數

                    1000-3000um≤±3%讀數

zui小接觸面           10×10mm/QNix4200

zui小曲率半徑         凸面:3mm;凹面:25mm

zui小基體厚度         Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

溫度補償范圍         0-60℃

顯示                 LCD液晶(帶背光)

探頭                 紅寶石固定式

電源                 2×1.5V干電池

尺寸                 100×60×27mm

重量                 110g

QNix®4200(含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5)可測量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度。(Fe)

?非常:
在整個測量范圍內測量精度高。
?操作簡單:
無校準只有一個按鈕。
單手操作
?創新技術:
經過驗證的霍爾傳感器和渦流技術。集成測量探針,無電纜或插頭。
?廣泛使用:
用于鋼鐵和有色金屬測量的雙探針。
?保護測量:
拋光的紅寶石,以保護探頭和表面被測量。

小型QNix4200測厚儀技術參數





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